QTJT650010000F 是一款針對高電壓、大電流功率半導體器件動態特性測試開發的綜合測試系統，集成信號發生器、高壓直流電源、測試主回路、 高壓保護模組、測試夾具、溫控系統、測量系統、人機交互界面，支持 6500V 以下電壓等級功率半導體器件測試，最高脈沖電流可達 10000A。
兼容IGBT、SiC等多種功率半導體器件動態性能測試;
可自動完成動態性能測試，自動生成doc、pdf、xs、ppt等多種格式測試報告
可輸出單脈沖、雙脈沖、多脈沖等多種信號波形，占空比和頻率均可調節
關鍵器件均選用國內外一流品牌,質量穩定可靠
針對不同功率器件設置不同的過壓過流保護點, 及時保護測試對象
可測試功率半導體器件在高溫環境下的動態特性
功率半導體器件和外圍驅動電路可定制專用夾具連接，操作和拆裝方便快捷
倉內設計防爆耐高溫耐高壓，并集成智能放電功能，可有效保護實驗人員安全
采用觸摸屏控制，操作方便快捷
內置功率半導體器件數據庫, 涵蓋業內主流功率半導體器件規格書,便于測試對比
供電電源電壓380V±10%(三相四線制+PE),50Hz±10%
供電電源功率15kVA
測試對象Si/SiC，IGBT/DIODE/MOSFET等不同封裝的功率半導體器件
支持并聯數量2并聯(可接受客戶定制進行并聯數拓展)
輸出最高電壓6000V DC
最大耐受脈沖電流10000A
脈沖寬度0.5μs~1000μs
脈沖寬度分辨率20ns
溫度控制范圍室溫至200°C
感性負載20μH/60μH/100μH/150μH/250μH/350μH/450μH/500μH
防護等級IP20
工作環境溫度5°C~45°C
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